原題: Test-Driven Development for Embedded C
ジェームズ・W・グレニング(訳: 蛸島昭之・笹井崇司)
オライリー・ジャパン / 2013年 / 原著2011年
技術: C言語
ハードウェアがまだ無い段階でも組み込みソフトウェアをテストしながら作る方法を解説した本。テストハーネスの用意、依存性の切り離し、モックによるデバイスの置き換えを、C言語の制約の中で実現していく。実機待ちで開発が止まる現場に効く技法が並ぶ。
邦訳版の書誌(オライリー・ジャパン、2013年、ISBN 9784873116143)は国立国会図書館サーチAPI(opensearch)の検索結果で確認。著者・訳者は同APIの責任表示「James W.Grenning 著,蛸島昭之 監訳,笹井崇司 訳」による。原著の初版年2011年はOpenLibrary/英語版Wikipediaの書誌による。
当サイトは Amazon.co.jp アソシエイトおよび楽天アフィリエイトのプログラム参加者です。書籍ページの購入リンクから商品が購入された場合、当サイトが紹介料を受け取ることがあります。